[发明专利]一种用核磁共振技术表征非均质润湿孔隙介质润湿性的方法

摘要

本发明涉及非均质润湿孔隙介质润湿性表征领域，具体涉及一种用核磁共振技术表征非均质润湿孔隙介质润湿性的方法。该方法包括：将孔隙介质用第一流体和第二流体饱和；利用核磁共振技术测量其D‑T2分布及T1/T2并得到有效表面驰豫率以得到润湿斑点的比例；将同质的孔隙介质经第三流体润湿后，利用核磁共振技术测量T1/T2比值后磨成片状，测量该片状的润湿角以得到T1/T2和润湿角的线性关系以得到润湿角；通过润湿角和润湿斑点比例计算出非均质润湿孔隙介质的视润湿角以表征润湿性。本发明的方法引入了视润湿角表征非均质润湿，借助核磁共振测得润湿斑点的面积比例和润湿强度得到一种准确、全面地评价孔隙介质的润湿性的方法。

主权项

1.一种用核磁共振技术表征非均质润湿孔隙介质润湿性的方法，其特征在于，该方法包括：(1)将非均质润湿孔隙介质同时饱和第一流体和第二流体；其中，第一流体接触所述非均质润湿孔隙介质中润湿斑点形成的润湿角定义为θ1；第二流体接触所述非均质润湿孔隙介质中润湿斑点形成的润湿角定义为θ2；(2)利用核磁共振技术IR‑CPMG脉冲序列测量所述非均质润湿孔隙介质的D‑T2分布及T1/T2比值；(3)分别根据所述非均质润湿孔隙介质的D‑T2分布计算得到第一流体接触润湿斑点产生的有效表面驰豫率和第二流体接触润湿斑点产生的有效表面驰豫率，从而计算得到润湿角为θ1的润湿斑点的比例f1；(4)将同种材质的非均质润湿孔隙介质样品改变其润湿性后经第三流体润湿后得到参照非均质润湿孔隙介质，并利用核磁共振技术IR‑CPMG脉冲序列测量该参照非均质润湿孔隙介质的T1/T2比值，而后将该参照非均质润湿孔隙介质磨成片状，测量该片状参照非均质润湿孔隙介质的润湿角，从而计算出T1/T2比值和润湿角间的线性关系；(5)根据步骤(4)所得的线性关系式，通过步骤(2)所得的T1/T2比值计算出润湿角θ1和润湿角θ2；(6)通过以下公式(1)计算出非均质润湿孔隙介质的视润湿角θA以用于表征非均质润湿孔隙介质润湿性：公式(1)：cosθA＝f1cosθ1+(1‑f1)cosθ2。