[发明专利]基于单目视觉的位置姿态测量系统精度检校方法和装置有效
| 申请号： | 201810153912.0 | 申请日： | 2018-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN108375382B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 朱庄生;袁学忠;刘刚;李建利;顾宾;王世博;刘艳红 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 | 代理人： | 李鑫 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及基于单目视觉的位置姿态测量系统精度检校方法和装置，首先使用基于动态三维重构的单目视觉测量方法获取靶标坐标系相对相机坐标系的位姿变化量；然后使用基于正交矢量和动态滤波的联合标定法获取惯性测量单元(IMU)坐标系和靶标坐标系间的相对位姿关系，将第一位姿数据转到IMU坐标系下，与POS自身输出的位置姿态数据进行比对，检校所述POS的测量精度。本发明的方法和装置实现了对POS的位姿精度的有效检校，具有精度高、实现简单的特点，可用于在室内对目前低精度、高精度惯性产品进行位姿精度检校。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 目视 位置 姿态 测量 系统 精度 校方 装置 | ||
【主权项】：
1.基于单目视觉的位置姿态测量系统精度检校方法，其特征在于，包括步骤：基于单目视觉测量，将位置固定的相机的坐标系作为测量坐标系，获取与所述IMU固连的靶标的第一位姿数据；标定IMU坐标系和靶标坐标系之间的固定相对位姿关系，将所述第一位姿数据转到IMU坐标系下，得出第二位姿数据；将所述第二位姿数据与POS自身输出的位置姿态数据进行比对，检校所述POS的测量精度。
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