[发明专利]基于干涉图像自相关值曲率特征的表面粗糙度测量方法有效
| 申请号： | 201810154656.7 | 申请日： | 2018-02-23 |
| 公开（公告）号： | CN108061529B | 公开（公告）日： | 2020-03-31 |
| 发明（设计）人： | 陈念年;董振兴;范勇;巫玲 | 申请（专利权）人： | 西南科技大学 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 夏艳 |
| 地址： | 621010 四川省绵阳市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明属于用于计量表面的粗糙度或不规则性技术领域，公开了一种基于干涉图像自相关值曲率特征的表面粗糙度测量方法，采用高斯滤波预处理去除干涉图像噪声；应用图像自相关分析法计算图像的二阶统计特征，提取出i方向10个像素偏移量的统计特征曲线；归结不同粗糙度下统计特征曲线的曲线变化，多项式拟合求取曲线最大曲率；应用最小二乘法拟合曲线最大曲率与粗糙度变化之间的函数关系，得到曲率随粗糙度变化的函数方程。本发明既能测量无法产生散斑的高反射光滑表面，又能测量无法产生干涉条纹的粗糙表面，扩大了测量量程；能够有效测量粗糙度较小的高反射表面和粗糙度较大的粗糙表面，扩大了测量的量程，测量结果相对误差最大值为8.6％。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 干涉 图像 相关 曲率 特征 表面 粗糙 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于干涉图像自相关值曲率特征的表面粗糙度测量方法，其特征在于，所述基于干涉图像自相关值曲率特征的表面粗糙度测量方法采用高斯滤波预处理去除干涉图像噪声；应用图像自相关分析法计算图像的二阶统计特征，提取出i方向10个像素偏移量的统计特征曲线；归结不同粗糙度下统计特征曲线的曲线变化，多项式拟合求取曲线最大曲率；应用最小二乘法拟合曲线最大曲率与粗糙度变化之间的函数关系，得到曲率随粗糙度变化的函数方程。
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