[发明专利]一种激光诱导击穿光谱检测系统在审

专利信息
申请号: 201810160043.4 申请日: 2018-02-26
公开(公告)号: CN110196245A 公开(公告)日: 2019-09-03
发明(设计)人: 王旭;杨燕婷;段忆翔 申请(专利权)人: 成都艾立本科技有限公司
主分类号: G01N21/71 分类号: G01N21/71;G01N21/01;G01N1/28;G01N1/44
代理公司: 成都高远知识产权代理事务所(普通合伙) 51222 代理人: 谢一平;曾克
地址: 610000 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开一种激光诱导击穿光谱检测系统,包括:光路系统,样品室,LED灯,三维位移样品台,自动控制系统;样品室为一密闭的腔体,其顶壁上设有通孔;LED灯固定于样品室的内侧壁上;三维位移样品台置于样品室中;在三维位移样品台的置物台的顶面设置一个以上盲孔;加热装置固定于盲孔底面;开口朝上的样品池置于盲孔中,且样品池采用导热材料制作,置物台采用绝热材料制作;光路系统通过通孔作用于置物台上;光路系统、LED灯、电动平移台、电动升降机构、加热装置均与自动控制系统电性连接。本发明提供的技术方案,能够使各种形态样品的前处理更加便捷,从而提高检测效率;同时,能够降低环境对检测结果的影响。
搜索关键词: 样品室 光路系统 三维位移 样品台 盲孔 激光诱导击穿光谱 自动控制系统 加热装置 检测系统 样品池 置物台 通孔 电动升降机构 电动平移台 导热材料 电性连接 检测结果 绝热材料 开口朝上 内侧壁 前处理 密闭 底面 顶壁 顶面 腔体 置物 制作 检测
【主权项】:
1.一种激光诱导击穿光谱检测系统,包括:光路系统,样品室(1),LED灯(2),三维位移样品台,自动控制系统;所述样品室(1)为一密闭的腔体,样品室(1)的顶壁上设有通孔;所述LED灯(2)固定于所述样品室(1)的内侧壁上;所述三维位移样品台置于所述样品室(1)中;所述三维位移样品台包括:电动平移台(3),电动升降机构(4),置物台(5),底座(21);在所述置物台(5)的顶面设置一个以上盲孔(6);还包括:样品池(7)和加热装置(8);所述加热装置(8)固定于所述盲孔(6)底面;所述样品池(7)与所述盲孔(6)的形状、大小相适配;所述样品池(7)置于所述盲孔(6)中,样品池(7)开口朝上;所述样品池(7)采用导热材料制作,所述置物台(5)采用绝热材料制作;所述置物台(5)的底面固定于所述电动升降机构(4)上,电动升降机构(4)固定于所述电动平移台(3)上,电动平移台(3)可在所述底座(21)上移动,底座(21)置于所述样品室(1)的内底面;所述光路系统通过所述通孔作用于所述置物台(5)上;所述光路系统、LED灯(2)、电动平移台(3)、电动升降机构(4)、加热装置(8)均与所述自动控制系统电性连接。
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