[发明专利]光信息记录介质以及再生方法有效

专利信息
申请号: 201810160370.X 申请日: 2014-04-08
公开(公告)号: CN108269592B 公开(公告)日: 2020-04-17
发明(设计)人: 中峻之;山田博久;山本真树;田岛秀春;小西正人 申请(专利权)人: 夏普株式会社;忆术控股股份有限公司
主分类号: G11B7/007 分类号: G11B7/007;G11B7/24085
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王亚爱
地址: 日本国大*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种光信息记录介质以及再生方法。在将根据从第1坑点串的最长坑点(P1max)或最长间隙(S1max)获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从第2坑点串的最长坑点(P2max)或最长间隙(S2max)获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下,第1坑点串被形成为第1反射率与第2反射率大致相同。
搜索关键词: 信息 记录 介质 以及 再生 方法
【主权项】:
1.一种光信息记录介质,具有被分配了通过第1坑点串而记录有信息的第1区域、和通过第2坑点串而记录有信息的第2区域的记录层,所述第1坑点串包含长度比再生装置所具有的光学系统分辨率限度的长度短的坑点,所述第2坑点串由具有上述光学系统分辨率限度的长度以上的长度的坑点构成,所述光信息记录介质的特征在于,在将根据从上述第1坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第1反射率、将根据从上述第2坑点串的最长坑点或最长间隙获得的反射光量而算出的反射率设为第2反射率的情况下,上述第1坑点串以与上述第2坑点串的形成条件不同的形成条件被形成,使得上述第1反射率与上述第2反射率大致相同,在上述第2区域记录有表示上述第1区域中的信息的再生开始位置以及/或者再生结束位置的区域位置信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社;忆术控股股份有限公司,未经夏普株式会社;忆术控股股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810160370.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top