[发明专利]一种多层介质材料内部缺陷的检测装置及其方法在审
| 申请号： | 201810168270.1 | 申请日： | 2018-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN108426852A | 公开（公告）日： | 2018-08-21 |
| 发明（设计）人： | 张振伟;张存林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581;G01N21/3563 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100048 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种多层介质材料内部缺陷的检测装置，包括在时间ts内发射频率在9.375GHz～13.75GHz之间变化的连续调频的低频信号的信号发生器、以及用于将所述低频信号通过n次倍频链路以获得在时间ts内发射频率在9.375nGHz～13.75nGHz之间变化的连续调频的太赫兹高频信号的太赫兹倍频链路器，其中n为大于或等于8的整数。本发明提供的一种多层介质材料内部缺陷的检测装置及其方法，可检测的材料更广泛、自由选择性强、适用范围广、实用性强，可降低检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 多层介质材料 检测装置 内部缺陷 低频信号 发射频率 倍频链 调频 信号发生器 自由选择性 高频信号 可检测 路器 检测 | ||
【主权项】：
1.一种多层介质材料内部缺陷的检测装置，其特征在于，包括在时间ts内发射频率在9.375GHz～13.75GHz之间变化的连续调频的低频信号的信号发生器、以及用于将所述低频信号通过n次倍频链路以获得在时间ts内发射频率在9.375nGHz～13.75nGHz之间变化的连续调频的太赫兹高频信号的太赫兹倍频链路器，其中n为大于或等于8的整数。
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