[发明专利]一种基于地下粗糙介质模型的电磁广义趋肤深度计算方法有效
| 申请号： | 201810174476.5 | 申请日： | 2018-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN108376204B | 公开（公告）日： | 2020-05-15 |
| 发明（设计）人： | 嵇艳鞠;吴琼;姜曜;赵雪娇;关珊珊;黎东升;王远 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20 |
| 代理公司： | 沈阳铭扬联创知识产权代理事务所(普通合伙) 21241 | 代理人： | 屈芳 |
| 地址： | 130012 吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于地下粗糙介质模型的电磁广义趋肤深度计算方法，目的在于提高电磁探测深度的解译精度。本发明主要针对地下粗糙介质的电导率模型，推导了地下均匀粗糙介质的广义趋肤深度公式。先根据测区地质资料提取地下不同岩石层的空间均匀粗糙度参数，然后对实测数据进行场值归一化、噪声滤波等处理，将处理后电磁数据进行视电导率参数计算；再利用不同岩石层粗糙度参数值，计算粗糙介质电阻率和广义趋肤深度，最后进行粗糙介质的视电导率‑广义趋肤深度成像。本发明的广义趋肤深度与经典均匀半空间介质趋肤深度的计算方法相比，更符合实际地下粗糙介质的传播扩散规律，从而提高了视电导率‑探测深度的解译精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 地下 粗糙 介质 模型 电磁 广义 深度 计算方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于地下粗糙介质模型的电磁广义趋肤深度计算方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)针对地下粗糙介质建立粗糙介质电导率模型，根据测区地质资料提取地下不同岩石层的空间均匀粗糙度参数；(2)对电磁实测数据进行处理，包括场值归一化、噪声滤波等预处理；(3)将预处理后的电磁数据进行视电导率参数计算，再利用不同岩石层粗糙度参数值，计算粗糙介质电导率；(4)根据均匀半空间模型的趋肤深度推导思想，推导地下粗糙介质的广义趋肤深度公式；(5)利用提取的不同岩石层的空间均匀粗糙度参数，带入推导的广义趋肤深度公式中，计算出电磁数据的广义趋肤深度，并绘制粗糙介质的视电导率‑广义趋肤深度成像。
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