[发明专利]基于浮栅充放电的状态非易失光开关及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201810175506.4 申请日: 2018-03-02
公开(公告)号: CN108538785B 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 周林杰;徐喆;陆梁军;陈建平;刘娇 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: H01L21/82 分类号: H01L21/82;H01L27/105;H01L29/788
代理公司: 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317 代理人: 张宁展
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于浮栅充放电的状态非易失光开关及其制备方法。光开关由下到上依次为单晶硅衬底、二氧化硅埋层、单晶硅n型掺杂层、绝缘二氧化硅层、单晶硅浮栅层、氧氮氧隔离层、单晶硅p型掺杂层、二氧化硅上包层和金属电极,本发明整体上包含两个串联连接的浮栅电容,浮栅内的载流子浓度可通过电子隧穿效应改变。由于载流子色散效应导致波导有效折射率的改变,从而可实现对光路的调控。切换后的光路可以在电压断掉后还能保持原状态,在光通信和光互连数据交换领域具有广阔的应用前景。
搜索关键词: 基于 浮栅充 放电 状态 非易失光 开关 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种基于浮栅充放电的状态非易失的光开关,其特征在于,由下到上依次为单晶硅衬底、二氧化硅埋层、单晶硅n型掺杂层、绝缘二氧化硅层、单晶硅浮栅层、氧氮氧隔离层、单晶硅p型掺杂层、二氧化硅上包层和金属电极,光开关构成主要包括:上层,所述的单晶硅p型掺杂层,中央为重掺杂,两侧为轻掺杂,所述的p型重掺杂中央与中央电极相连;下层,所述的单晶硅n型掺杂层,分为左右不相连的两部分,且每一部分的两端为重掺杂,靠近中间的部分为轻掺杂,两端的n型重掺杂区域分别与左电极、右电极相连;中间层,即位于上层p型轻掺杂和下层n型轻掺杂的交叠区域之间的中间层自上而下依次是氧氮氧隔离层、单晶硅浮栅层和二氧化硅隔离层,所述的二氧化硅隔离层与所述的下层隔离,所述的氧氮氧隔离层与所述的上层隔离,以防止电子隧穿进入上层,所述的上层、中间层和下层的材料均为单晶硅,交叠区域构成两个并行的光波导,以保证光信号传输的低损耗。
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