[发明专利]航天器密封舱在轨泄压过程的仿真分析方法在审

专利信息
申请号: 201810176031.0 申请日: 2018-03-02
公开(公告)号: CN108416136A 公开(公告)日: 2018-08-17
发明(设计)人: 杨宏;孙威;杨哲;刘蔚娴;朱华光;孙伊;邢涛;孙乐丰;王为;刘铭;张健;李京涛;朱亚力;罗超;左岁寒;刘冬雨 申请(专利权)人: 北京空间技术研制试验中心
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538 代理人: 陆鑫;延慧
地址: 100094 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及航天器密封舱在轨泄压过程的仿真分析方法,包括:S1.通过传感器获取密封舱的温度Tn和压力Pn,并由温度Tn和压力Pn获取气体的密度ρn;S2.由压力Pn和密度ρn获取气体排放的质量流率mn;S3.选取时间步长dt,由质量流率mn计算节点时刻tn+1时,密封舱中气体的节点密度ρn+1;S4.由节点密度ρn+1获取气体的节点压力Pn+1和节点温度Tn+1,由节点压力Pn+1和节点密度ρn+1获取气体排放的节点质量流率mn+1;S5.以步骤S3‑S4重复开展迭代计算,获取密封舱泄压过程气体压力、温度和密度随时间变化的曲线。通过建立一套与航天器密封舱相同的在轨泄压系统的简化物理模型,能够用于对航天器密封舱在轨泄压过程中其内部气体物理参数随时间变化关系进行分析,结果准确。
搜索关键词: 密封舱 航天器 泄压 质量流率 随时间变化 仿真分析 节点压力 气体排放 简化物理模型 迭代计算 过程气体 计算节点 内部气体 时间步长 物理参数 泄压系统 传感器 重复 分析
【主权项】:
1.航天器密封舱在轨泄压过程的仿真分析方法,包括:S1.通过传感器获取密封舱的温度Tn和压力Pn,并根据所述温度Tn和所述压力Pn获取密封舱中气体的密度ρn,其中,n≥0;S2.根据所述压力Pn和所述密度ρn获取所述密封舱内气体排放的质量流率mn;S3.选取时间步长dt,根据质量流率mn计算节点时刻tn+1时,密封舱中气体的节点密度ρn+1,其中tn+1=tn+dt;S4.根据所述节点密度ρn+1获取所述密封舱中气体的节点压力Pn+1和节点温度Tn+1,根据所述节点压力Pn+1和所述节点密度ρn+1获取密封舱内气体排放的节点质量流率mn+1;S5.以步骤S3‑S4重复开展迭代计算,获取所述密封舱泄压过程气体压力、温度和密度随时间变化的曲线。
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