[发明专利]一种提高DMD寿命的方法在审
| 申请号： | 201810178247.0 | 申请日： | 2018-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN108346401A | 公开（公告）日： | 2018-07-31 |
| 发明（设计）人： | 黄新栋;陈铖颖;施华;尹华一 | 申请（专利权）人： | 厦门理工学院 |
| 主分类号： | G09G3/34 | 分类号： | G09G3/34 |
| 代理公司： | 厦门市精诚新创知识产权代理有限公司 35218 | 代理人： | 何家富 |
| 地址： | 361000 福建省*** | 国省代码： | 福建;35 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种提高DMD寿命的方法，所述方法的实现过程为：在DMD控制板的FPGA内部加入用于检测DMD当前锁定时间的时间检测模块和时间寄存器，当时间检测模块检测到的时间大于时间寄存器中的预设时间值时，触发DMD控制板的DAD控制模块输出复位脉冲，以使DMD控制板的DAD芯片输出一组‑26V、7.5V和26V的电压，进而使DMD微镜实现先从锁定状态回到平态，然后根据其内部SRAM的值进行翻转，最后再锁定的过程。本发明的方法实现简单，可以以较低的成本提高DMD的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 控制板 时间检测模块 时间寄存器 锁定 控制模块 使用寿命 输出复位 翻转 检测 脉冲 触发 平态 预设 芯片 输出 | ||
【主权项】：
1.一种提高DMD寿命的方法，其特征在于，所述方法的实现过程为：在DMD控制板的FPGA内部加入用于检测DMD当前锁定时间的时间检测模块和时间寄存器，当时间检测模块检测到的时间大于时间寄存器中的预设时间值时，触发DMD控制板的DAD控制模块输出复位脉冲，以使DMD控制板的DAD芯片输出一组‑26V、7.5V和26V的电压，进而使DMD微镜实现先从锁定状态回到平态，然后根据其内部SRAM的值进行翻转，最后再锁定的过程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门理工学院，未经厦门理工学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810178247.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
