[发明专利]波纹传感器、波纹重建方法及其应用有效

专利信息
申请号: 201810180409.4 申请日: 2018-03-05
公开(公告)号: CN110231021B 公开(公告)日: 2022-09-20
发明(设计)人: 罗松;鲁远甫;焦国华;董玉明;周志盛 申请(专利权)人: 深圳先进技术研究院
主分类号: G01C11/34 分类号: G01C11/34
代理公司: 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 44304 代理人: 孙伟峰;武岑飞
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明揭示了一种波纹传感器、波纹重建方法及其应用,其中该波纹传感器包括采样阵列,用于对穿过波纹的折射光线进行采样;反射板,包括光接收面,光接收面用于接收被采样的折射光线并形成采样光斑;第一成像元件,用于对光接收面成像以获取采样光斑的分布信息;控制元件,用于根据采样光斑的分布信息、反射板和第一成像元件的相对位置信息、与采样光斑对应的采样阵列中阵列单元的位置信息、以及与被采样的折射光线对应的入射光线的方向信息,重建波纹分布;通过采用反射板作为采样折射光线的光斑成像元件,避免了透射式成像的错位光斑现象,增加了可以在水下的应用深度,提高了水面对空成像应用中的成像校正效果。
搜索关键词: 波纹 传感器 重建 方法 及其 应用
【主权项】:
1.一种波纹传感器,其特征在于,包括:采样阵列,用于对穿过波纹的折射光线进行采样;反射板,包括光接收面,所述光接收面用于接收被采样的折射光线并形成采样光斑;第一成像元件,用于对所述光接收面成像以获取所述采样光斑的分布信息;控制元件,用于根据所述采样光斑的分布信息、所述反射板和第一成像元件的相对位置信息、与所述采样光斑对应的采样阵列中阵列单元的位置信息、以及与被采样的折射光线对应的入射光线的方向信息,重建波纹分布。
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