[发明专利]双温度控制老化试验装置有效
申请号: | 201810183985.4 | 申请日: | 2018-03-07 |
公开(公告)号: | CN108387507B | 公开(公告)日: | 2020-07-28 |
发明(设计)人: | 朱骥;许广铿;陈国秋 | 申请(专利权)人: | 深圳市中检检测设备有限公司 |
主分类号: | G01N17/00 | 分类号: | G01N17/00;G05D27/02 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 518000 广东省深圳市坪山*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种双温度控制老化试验装置,包括:辐照调节组件,包括模拟太阳光的光源;试验箱体,包括壳体、安装架及表面温度计,壳体内有一容纳腔,光源及安装架设置于容纳腔内,安装架用于放置测试样品,表面温度计设置于安装架上,在通过出风板及回风板与壳体形成出风通道和回风通道;风冷组件,出风板及回风板上均设置有出风口,在风冷组件的作用下,空气在出风通道及回风通道之间形成对流,实现对表面温度计的表面的换热降温;传感器组件,包括温度传感器,用于测试表面温度计的表面温度;加热器,用于对容纳腔内的空气进行加热;及控制组件,用于根据温度传感器的反馈控制加热器。上述双温度控制老化试验装置可以实现双温度同时控制。 | ||
搜索关键词: | 温度 控制 老化 试验装置 | ||
【主权项】:
1.一种双温度控制老化试验装置,用于样品的老化测试,其特征在于,包括:辐照调节组件,包括光源,发出的光线用于模拟太阳光;试验箱体,包括壳体、安装架及表面温度计,所述壳体为空心的密闭箱体,包括一容纳腔,所述光源及所述安装架设置于所述容纳腔内,所述安装架用于放置测试样品,所述表面温度计设置于所述安装架上;还包括出风板及回风板,所述出风板及所述回风板均设置于所述容纳腔内,与所述壳体固定连接,且分别位于所述光源的两侧,所述出风板与所述壳体之间合围形成一出风通道,所述回风板与所述壳体之间合围一回风通道,所述出风通道与所述回风通道相对设置;风冷组件,包括风冷驱动器及风轮,所述风轮固定于所述风冷驱动器的转轴上,在所述风轮驱动器的驱动下,所述风轮转动,所述风轮设置于所述出风通道内,所述出风板及所述回风板上均设置有出风口,从而空气在出风通道及回风通道之间形成对流,实现对表面温度计的表面的换热降温;传感器组件,包括温度传感器,用于测试所述表面温度计的表面温度;加热器,设置于所述容纳腔内,用于对所述容纳腔内的空气进行加热;及控制组件,用于根据所述温度传感器的反馈控制所述加热器,从而实现对容纳腔内的空气的温度的自动控制。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市中检检测设备有限公司,未经深圳市中检检测设备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810183985.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。