[发明专利]用于使用微观和宏观三维分析来监测构件的方法在审
| 申请号： | 201810184169.5 | 申请日： | 2018-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN108534700A | 公开（公告）日： | 2018-09-14 |
| 发明（设计）人： | B.J.杰曼;G.L.霍维斯 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 万欣;刘林华 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种监测构件的方法包括提供构件，其包括具有外表面和构造在外表面上的多个被动应变指示器的本体。该方法包括用至少一个三维数据采集装置来直接地测量构件。直接测量生成第一点云和多个第二点云。第一点云对应于外表面，且包括多个第一数据点，各个数据点具有X轴坐标、Y轴坐标、以及Z轴坐标。各个第二点云对应于多个被动应变指示器中的一个，且包括多个第二数据点，各个数据点均具有X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标。各个第二点云的第二数据点密度大于各个第一点云的第一数据点密度。 | ||
| 搜索关键词： | 点云 应变指示器 第一数据 监测构件 数据点 采集装置 测量构件 三维分析 三维数据 提供构件 直接测量 微观 宏观 | ||
【主权项】：
1.一种监测构件的方法，所述构件包括外表面和构造在所述外表面上的多个被动应变指示器，所述方法包括：首先用至少一个三维数据采集装置来直接地测量所述构件，其中所述初始直接测量生成第一点云和多个第二点云，所述第一点云对应于所述外表面且包括多个第一数据点，各个数据点均具有X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标，各个第二点云对应于所述多个被动应变指示器中的一个，且包括多个第二数据点，各个数据点均具有X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标，其中各个第二点云的第二数据点密度大于所述第一点云的第一数据点密度；使所述构件经历至少一个工作循环；随后用所述至少一个三维数据采集装置来直接地测量所述构件，其中所述后续直接测量生成第三点云和多个第四点云，所述第三点云对应于所述外表面且包括多个第三数据点，各个数据点均具有X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标，各个第四点云均对应于所述多个被动应变指示器中的一个且包括多个第四数据点，各个数据点均具有X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标，其中各个第四点云的第四数据点密度大于各个第三点云的第三数据点密度；将所述第一点云与第三点云相比较来评估所述构件的总体变形；以及将用于各个被动应变指示器的所述第二点云与所述第四点云相比较来评估所述多个被动应变指示器中的各个的局部变形。
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