[发明专利]基于面型基准的转台转角误差检测方法有效
申请号: | 201810184500.3 | 申请日: | 2018-03-07 |
公开(公告)号: | CN108444433B | 公开(公告)日: | 2020-05-19 |
发明(设计)人: | 张海涛;冯伟;乔铁柱;刘芳宇;郝晓丽 | 申请(专利权)人: | 太原理工大学 |
主分类号: | G01B21/22 | 分类号: | G01B21/22 |
代理公司: | 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 | 代理人: | 任林芳 |
地址: | 030024 *** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: |
本发明基于面型基准的转台转角误差检测方法,属于转台转角误差检测技术领域;所要解决的技术问题是提供了一种能够在转台任意位置实现对转台分度误差进行连续检测的高精度检测方法;技术方案为:检测装置包括一个平面度不大于2微米的基准平面;检测方法为将该检测装置放置于分度转台上并固定在分度转台的初始位置,使用测量设备测量检测装置的基准平面上任意不重合的至少五个点,根据这些点的坐标值拟合平面,并计算出平面的法向量 |
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搜索关键词: | 基于 基准 转台 转角 误差 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于面型基准的转台转角误差检测装置,其特征在于:包括一个平面度不大于2微米的基准平面(1)。
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