[发明专利]用于检测X射线设备中的高电压闪络的方法和X射线设备有效

专利信息
申请号: 201810188385.7 申请日: 2018-03-07
公开(公告)号: CN108572304B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: B·格贝特 申请(专利权)人: 西门子医疗有限公司
主分类号: H05G1/26 分类号: H05G1/26
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;罗利娜
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了一种用于检测X射线设备(2)中的高电压闪络的方法,该X射线设备(2)具有X射线发射器(6)和高压电源(4)。X射线发射器(6)具有被绝缘介质(8)围绕的X射线管(10),并且高压电源(4)具有高压发生器(7)(优选为高频发生器)以及电缆(14),其中电缆(14)是高压发生器(7)与X射线管(10)之间的连接通道(VS)的至少一部分。在X射线设备(2)的正常操作期间,通过测量设备(18)来检测和评估干扰脉冲(I),该干扰脉冲(I)由于高电压闪络出现在连接通道(VS)中,该测量设备(18)具有测量元件(20),使得使用所评估的干扰脉冲(I)对X射线发射器(6)和其他携带高电压的组件的状况进行评估以及进行随后的测量。
搜索关键词: 用于 检测 射线 设备 中的 电压 方法
【主权项】:
1.一种用于检测X射线设备(2)中的高电压闪络的方法,所述X射线设备(2)具有一个X射线发射器(6)和一个高压电源(4),其中所述X射线发射器(6)具有一个X射线管(10)并且所述高压电源(4)具有一个高压发生器(7)以及至少一条电缆(14),其中所述至少一条电缆(14)是所述高压发生器(7)与所述X射线管(10)之间的一个连接通道(VS)的至少一部分,其特征在于,在所述X射线设备(2)的正常操作期间,检测和评估一个干扰脉冲(I),所述干扰脉冲(I)由于所述高电压闪络而出现在所述连接通道(VS)中。
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