[发明专利]半导体存储装置在审
| 申请号： | 201810188445.5 | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN109584934A | 公开（公告）日： | 2019-04-05 |
| 发明（设计）人： | 堂坂利彰 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
| 主分类号： | G11C16/10 | 分类号： | G11C16/10;G11C16/26 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 杨林勳 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 实施方式的半导体存储装置具备：存储单元，存储多个数据；第1电路，对所述存储单元中存储的数据进行判定；及第2电路，对所述第1电路进行控制；且在所述第2电路向所述存储单元写入所述第1数据的序列中，所述第1电路生成第1电流值的第1电流，并基于所述第1电流及所述存储单元中流通的第2电流，对所述存储单元中存储的数据进行判定，在所述第2电路向所述存储单元写入不同于所述第1数据的所述第2数据的序列中，所述第1电路生成不同于所述第1电流值的第2电流值的第3电流，并基于所述第3电流及所述第2电流，对所述存储单元中存储的数据进行判定。 | ||
| 搜索关键词： | 存储单元 电路 存储 半导体存储装置 判定 电路生成 写入 流通 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储装置，其特征在于，具备：存储单元，存储多个数据；第1电路，对所述存储单元中存储的数据进行判定；及第2电路，对所述第1电路进行控制；且在所述第2电路向所述存储单元写入第1数据的序列，所述第1电路生成第1电流值的第1电流，并基于所述第1电流、及所述存储单元中流通的第2电流，对所述存储单元中存储的数据进行判定，在所述第2电路向所述存储单元写入不同于所述第1数据的第2数据的序列中，所述第1电路生成不同于所述第1电流值的第2电流值的第3电流，并基于所述第3电流、及所述第2电流，对所述存储单元中存储的数据进行判定。
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