[发明专利]III-V族半导体刻蚀液及其制备方法和应用在审
申请号: | 201810188771.6 | 申请日: | 2018-03-07 |
公开(公告)号: | CN110240906A | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 潘革波;王超 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | C09K13/00 | 分类号: | C09K13/00;H01L21/306;H01L21/3063 |
代理公司: | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人: | 王锋 |
地址: | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种III‑V族半导体刻蚀液及其制备方法和应用。所述的III‑V族半导体刻蚀液包括按照体积百分比计算的如下组分:含C=C双键的酯15~30%,含羰基的酯60~84.95%,盐0.05~10%。所述的III‑V族半导体刻蚀液的制备方法包括:在常温下将含碳碳双键的酯、含羰基酯与盐于无水环境中混合均匀,获得所述III‑V族半导体刻蚀液。本发明实施例提供的III‑V族半导体刻蚀液,原料易得、制备方法简单,在刻蚀过程中操作安全,环境友好,而且可以实现对III‑V族半导体的精确刻蚀,同时获得不同的形貌,有利于科学研究和工业化生产。 | ||
搜索关键词: | 刻蚀液 半导体 制备方法和应用 制备 形貌 体积百分比 操作安全 环境友好 刻蚀过程 碳碳双键 无水环境 常温下 羰基酯 刻蚀 双键 羰基 科学研究 | ||
【主权项】:
1.一种III‑V族半导体刻蚀液,其特征在于包括按照体积百分比计算的如下组分:含C=C双键的酯15~30%,含羰基的酯60~84.95%,盐0.05~10%。
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