[发明专利]肖特基的光探测器及其形成方法有效
申请号: | 201810189788.3 | 申请日: | 2018-03-08 |
公开(公告)号: | CN108695398B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 陈达 | 申请(专利权)人: | 中芯集成电路(宁波)有限公司 |
主分类号: | H01L31/0352 | 分类号: | H01L31/0352;H01L31/108;H01L31/18 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 沈宗晶 |
地址: | 315899 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供了一种肖特基结构的光探测器及其形成方法。通过将肖特基接触层形成在光敏层的内部,从而使光敏层中所形成的耗尽区从光敏层的表面扩展至光敏层的深处,有利于提高光敏层深处的光生载流子的分离和吸收的效率。并且可进一步将互连层掩埋入光敏层中,从而可同时减小肖特基接触层和互连层对入射光的阻挡,提高光敏层对入射光的吸收率,进而可改善肖特基结构的光探测器的性能。 | ||
搜索关键词: | 肖特基 探测器 及其 形成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种肖特基结构的光探测器,其特征在于,包括:光敏层,所述光敏层具有第一表面和与所述第一表面相对的第二表面,所述光敏层包括第一端部,所述第一端部为所述光敏层中靠近所述第一表面的端部;欧姆接触层,形成在所述光敏层上并与所述第一端部电性连接;以及,多个肖特基接触层,形成在所述光敏层的内部并位于所述第一端部的上方。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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