[发明专利]一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备有效
| 申请号： | 201810189902.2 | 申请日： | 2018-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN108508637B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 何怀亮 | 申请（专利权）人： | 惠科股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 潘登 |
| 地址： | 518108 广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种显示面板的检测方法、装置及自动光学检测设备，其中，显示面板的检测方法包括：选取显示基板上的检测点，其中，检测点对应间隔单元或像素单元；按照设定对比间距在检测点的周围选取至少2个对比点；根据检测点与2个对比点的灰阶值，判断检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元。本发明实施例现有的检测支撑柱丢失的方法对计算机资源消耗巨大、耗时长的问题，可高效率地检测出缺损间隔单元，节省计算机资源，节约显示设备的生产时间。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 显示 面板 检测 方法 装置 自动 光学 设备 | ||
【主权项】：
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：选取显示基板上的检测点，其中，所述检测点对应间隔单元或像素单元；按照设定对比间距在所述检测点的周围选取至少2个对比点；根据所述检测点与所述至少2个对比点的灰阶值，判断所述检测点是否为显示面板上的缺陷，以检测出显示基板的第一缺陷和第二缺陷，其中，所述第一缺陷包括正常间隔单元和像素缺陷，所述第二缺陷包括像素缺陷和缺损间隔单元；根据所述第一缺陷和所述第二缺陷确定所述缺损间隔单元。
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