[发明专利]高分辨率X射线衍射方法和装置有效
| 申请号： | 201810190461.8 | 申请日： | 2018-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN108572184B | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | D·贝克尔斯;亚历山大·哈尔陈科;米伦·加特什基;尤金·鲁维坎普 | 申请（专利权）人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N23/20008 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张瑞;杨明钊 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了高分辨率X射线衍射方法和装置。用于高分辨率测量的X射线衍射装置将具有小于50的原子序数Z的靶的X射线源的使用与具有像素阵列的能量分辨X射线探测器以及用于从X射线源选择K‑β放射线并且用于将K‑β放射线反射到样品上(在此K‑β放射线被衍射到能量分辨X射线探测器上)的β放射线多层反射镜结合起来。样品可以具体地处于透射状态。样品可以是毛细管中的粉末样品。 | ||
| 搜索关键词： | 高分辨率 射线 衍射 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种X射线衍射装置，包括：X射线源(2)，所述X射线源(2)具有原子序数Z小于50的靶(4)，用于发射X射线束(6)；能量分辨X射线探测器(20)；以及样品保持器(14)，所述样品保持器(14)用于保持样品(12)，使得来自所述X射线源的所述X射线束入射到所述样品上并被衍射到所述X射线探测器上；其中，所述X射线衍射装置还包括K‑β放射线多层反射镜(10)，所述K‑β放射线多层反射镜(10)用于从所述X射线源中选择所述K‑β放射线并将所述K‑β放射线反射到所述样品(12)上。
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