[发明专利]芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法在审
| 申请号： | 201810192257.X | 申请日： | 2018-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN108387838A | 公开（公告）日： | 2018-08-10 |
| 发明（设计）人： | 王永胜;刘勤让;朱珂;沈剑良;宋克;吕平;张进;张波;李沛杰;毛英杰;张帆;王锐;何浩;李杨;赵玉林;虎艳宾;张霞 | 申请（专利权）人： | 天津芯海创科技有限公司;天津市滨海新区信息技术创新中心 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人： | 王文红 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法，涉及芯片测试技术领域，该芯片测试方法，芯片预先设置有测试模式；包括：启动芯片的测试模式；在测试模式下，芯片可输出同步信号，用于端口信号的同步，且芯片的状态寄存器映射至数字IO；根据同步信号采集端口输出的参数数据；扫描数字IO获取状态寄存器的状态数据；分别根据参数数据和状态数据确定芯片是否工作正常。本发明实施例提供的芯片测试方法、装置、芯片及设计芯片的方法，在测试模式测试机台可根据同步信号抓取高速端口参数数据，完成参数测试；并且可以直接扫描数字IO引脚查看芯片状态，无需再读取内部寄存器，降低测试难度和减少测试时间。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 芯片测试 测试模式 参数数据 扫描数字 状态数据 读取 抓取 同步信号采集 内部寄存器 状态寄存器 参数测试 测试机台 测试难度 端口输出 端口信号 高速端口 工作正常 获取状态 启动芯片 输出同步 同步信号 芯片状态 预先设置 寄存器 数字IO 映射 测试 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述芯片预先设置有测试模式；所述方法包括：启动所述芯片的测试模式；在所述测试模式下，所述芯片输出同步信号，用于端口信号的同步，且所述芯片的状态寄存器映射至数字IO；根据所述同步信号采集端口输出的参数数据；扫描所述数字IO获取所述状态寄存器的状态数据；分别根据所述参数数据和所述状态数据确定所述芯片是否工作正常。
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