[发明专利]一种吸收光谱强度比测温方法有效
| 申请号： | 201810195144.5 | 申请日： | 2018-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN108489631B | 公开（公告）日： | 2022-08-09 |
| 发明（设计）人： | 张巍巍;王闽;史久林;何兴道 | 申请（专利权）人： | 南昌航空大学 |
| 主分类号： | G01K11/00 | 分类号： | G01K11/00;G01K11/32 |
| 代理公司： | 南昌洪达专利事务所 36111 | 代理人： | 张荣 |
| 地址： | 330063 江*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种吸收光谱强度比测温方法，主要阐明利用固体材料的光吸收峰强度比测量绝对温度的一种方法及相应的测温器件。方法步骤为：步骤一、选取具有热耦合初态能级的固体材料；步骤二、计算温度 |
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| 搜索关键词： | 一种 吸收光谱 强度 测温 方法 | ||
【主权项】：
1.一种吸收光谱强度比测温方法，它基于合适的固体材料，通过测量材料的光吸收峰强度比计算出绝对温度，其特征在于方法步骤为：步骤一、选取具有热耦合初态能级的固体材料；步骤二、在不同的已知温度T条件下测量固体材料热耦合初态能级参与跃迁的两个光吸收峰强度的比例值R；步骤三、拟合计算出lnR~1/T的关系函数即为温度传感方程；步骤四、将所述固体材料置于未知温度环境，测量步骤二所述的两个光吸收峰强度的比例值，代入由步骤三所得到的传感方程，进而得到待测温度值。
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