[发明专利]一种基于两次特征检测的图像配准方法有效
| 申请号： | 201810199489.8 | 申请日： | 2018-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN108182700B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 桑红石;董通;胡鹏 | 申请（专利权）人： | 华中科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/33 | 分类号： | G06T7/33 |
| 代理公司： | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人： | 李智;曹葆青 |
| 地址： | 430074 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于两次特征检测的图像配准方法，在对图像进行特征检测时，先提取一定数量的特征点，以特征点坐标及其邻域生成掩模图像，利用掩模图像进行第二次特征检测，将两次检测得到的特征点合并，作为最终的特征检测结果输出，之后再进行特征描述、特征匹配、变换模型估计和图像插值的操作得到配准图像。本发明利用了特征点之间的位置关系，在特征强度较弱的区域仍保留一定数量的特征点，提供更加丰富的特征点信息，提高了特征匹配环节正确匹配对的数量，能够在较差成像条件、目标内部结构变化等情况下实现高精度的图像配准；同时，能够适应多种特征检测和特征描述算子，省去了复杂的参数调节过程，具有简洁性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 两次 特征 检测 图像 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于两次特征检测的图像配准方法，其特征在于，包括：(1)利用检测算子对输入图像进行第一次特征检测，得到第一特征点集，利用第一特征点集合中的特征点坐标及其邻域生成掩模图像，利用掩模图像进行第二次特征检测，得到第二特征点集，将第一特征点集与第二特征点集合并得到特征点集，所述输入图像包括参考图像和待配准图像；(2)利用特征点集依次进行特征描述、特征匹配、变换模型估计和图像插值，得到输入图像中参考图像的配准图像。
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