[发明专利]基于布鲁斯特角测量的太赫兹物质介电常数测量系统有效
申请号: | 201810200665.5 | 申请日: | 2018-03-12 |
公开(公告)号: | CN108535550B | 公开(公告)日: | 2020-03-20 |
发明(设计)人: | 丁丽;王喜旺;夏克文;朱亦鸣 | 申请(专利权)人: | 上海理工大学 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人: | 吴宝根;徐颖 |
地址: | 200093 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于布鲁斯特角测量的太赫兹物质介电常数测量系统,利用物质具有的布鲁斯特角的特性以及布鲁斯特角与物质介电常数之间的关系,通过检测极化太赫兹波检测不同材质平板的布鲁斯特角,来求解出物质介电常数。采用自行设计的信号传输‑会聚‑准直光路系统、自行设计的由双层旋转台组成的样品检测模块、同步控制单元、信号处理单元及图像显示单元,灵活使用了圆极化天线与线极化天线通过反射的方式,在多极化的测量、计算下完成了对目标布鲁斯特角的准确测量,最终通过介电常数与布鲁斯特角的关系公式计算出目标介电常数,对太赫兹成像安检技术的发展和推广有重要意义。 | ||
搜索关键词: | 基于 布鲁斯特角 测量 赫兹 物质 介电常数 系统 | ||
【主权项】:
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