[发明专利]光栅尺性能检测方法和系统有效
| 申请号： | 201810205102.5 | 申请日： | 2018-03-13 |
| 公开（公告）号： | CN108406442B | 公开（公告）日： | 2020-02-04 |
| 发明（设计）人： | 卢红星 | 申请（专利权）人： | 上海铼钠克数控科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B23Q17/00 | 分类号： | B23Q17/00;B23Q17/24 |
| 代理公司： | 31283 上海弼兴律师事务所 | 代理人： | 胡美强;张冉 |
| 地址： | 200231 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光栅尺性能检测方法和系统，其中光栅尺性能检测方法包含以下步骤：运行数控程序控制机床的各运动轴运动，使用信号采集模块采集机床运动过程中的指令速度、指令位置，并使用待测光栅尺获取机床运动的实际位置；获取机床运动过程中的跟随误差；根据指令速度，形成有效指令位置和有效跟随误差；将有效指令位置等间隔化；将有效跟随误差以线性内插的插值方法，得到等位置间隔的跟随误差数据序列；经过带通滤波器，得到滤波后的跟随误差数据序列；获取滤波后的跟随误差数据序列的特征值，根据特征值评价待测光栅尺的性能。本发明采用低成本的技术方案，实现对光栅尺的性能进行高精度的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 光栅尺 机床运动 误差数据 性能检测 有效指令 滤波 数控程序控制 指令 带通滤波器 特征值评价 采集模块 实际位置 使用信号 位置间隔 线性内插 指令位置 等间隔 低成本 运动轴 机床 采集 检测 | ||
【主权项】：
1.一种光栅尺性能检测方法，其特征在于，包含以下步骤：/nS1、运行数控程序控制机床的各运动轴运动，使用信号采集模块采集机床运动过程中的指令速度、指令位置，并使用待测光栅尺获取机床运动的实际位置；/nS2、获取所述机床运动过程中的跟随误差，所述跟随误差为所述指令位置与所述实际位置的差值；/nS3、根据所述指令速度，截取机床运动过程中的匀速运动的指令位置和跟随误差，形成有效指令位置和有效跟随误差；/nS4、将所述有效指令位置等间隔化，得到等间隔化的指令位置，所述等间隔化采用线性内插的插值方法实现；/nS5、以有效指令位置为插值基准的x序列，以有效跟随误差为插值基准的y序列，以等间隔化的指令位置作为输入x’序列，利用线性内插法得到等位置间隔的跟随误差数据序列；/nS6、等位置间隔的跟随误差数据序列经过高通滤波器，得到滤波后的跟随误差数据序列；/nS7、获取滤波后的跟随误差数据序列的特征值，根据所述特征值评价所述待测光栅尺的性能。/n
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