[发明专利]一种奥氏体不锈钢离子辐照后铁素体转变量的磁性无损检测方法有效
| 申请号： | 201810208174.5 | 申请日： | 2018-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN108333032B | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 徐超亮;刘向兵;薛飞;钱王洁;李远飞;林芳;安英辉;王春辉 | 申请（专利权）人： | 苏州热工研究院有限公司;岭东核电有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44;G01N27/85 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 孙仿卫;陈婷婷 |
| 地址： | 215004 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
本发明公开一种奥氏体不锈钢离子辐照后铁素体转变量的磁性无损检测方法，包括以下步骤：(1)将奥氏体不锈钢加工成圆片后进行固溶处理；(2)对圆片进行磁性测量，获得未辐照奥氏体不锈钢的磁滞回线第一M‑H曲线；(3)将圆片进行离子辐照，获得离子辐照损伤区域的等效厚度L |
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| 搜索关键词： | 一种 奥氏体 不锈钢 离子 辐照 后铁素体 转变 磁性 无损 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种奥氏体不锈钢离子辐照后铁素体转变量的磁性无损检测方法，其特征在于，包括如下步骤：(1)将初始状态的奥氏体不锈钢加工制作成厚度为L0的圆片并将其置于真空环境中进行固溶处理；(2)对步骤(1)得到的圆片进行磁性测量，获得未辐照奥氏体不锈钢的磁滞回线，定义为第一M‑H曲线；(3)对步骤(1)得到的圆片进行离子辐照试验，根据辐照参数与不锈钢样品参数，计算获得辐照损伤区域的等效厚度L1；(4)对步骤(3)中辐照后的圆片进行磁性测量，获得辐照后奥氏体不锈钢的磁滞回线，定义为第二M‑H曲线；(5)将所述第二M‑H曲线扣除未辐照奥氏体不锈钢对所述第一M‑H曲线的贡献得到第三M‑H曲线，通过所述第三M‑H曲线获得辐照后奥氏体不锈钢圆片的饱和磁化强度Ms；(6)采用式![]()
计算获得圆片中辐照损伤部分的饱和磁化强度Mst；(7)采用式![]()
计算获得离子辐照后奥氏体不锈钢中的铁素体转变量Ft，其中，Fs为奥氏体不锈钢铁素体量饱和值。
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