[发明专利]一种微片激光测距仪的离轴两反系统有效

专利信息
申请号: 201810208565.7 申请日: 2018-03-14
公开(公告)号: CN108227166B 公开(公告)日: 2023-09-05
发明(设计)人: 徐文;陈宝华;张晓春 申请(专利权)人: 苏州亿帝电子科技有限公司;苏州科技大学
主分类号: G02B17/06 分类号: G02B17/06
代理公司: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257 代理人: 张荣
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种微片激光测距仪的离轴两反系统,该系统包括第一离轴反射镜和第二离轴反射镜,第一离轴反射镜为球面镜,第二离轴反射镜为偶次非球面镜,激光入射到第一离轴反射镜后发散并反射至第二离轴反射镜,并在第二离轴反射镜上发生反射后出射,形成扩束光斑;其中,第一离轴反射镜相对于入射激光的主光轴倾斜,第二离轴反射镜相对于入射激光的主光轴存在离轴偏心。本发明的微片激光测距仪的离轴两反系统采用两个离轴反射镜设计,通过将第一离轴反射镜设置为球面镜,将第二离轴反射镜设置为偶次非球面镜,能够在无中心能量损失,无中心遮拦情况下,满足扩束倍率设计要求,实现长距离测距,成本低,具有广阔的市场前景。
搜索关键词: 一种 激光 测距仪 离轴两反 系统
【主权项】:
1.一种微片激光测距仪的离轴两反系统,其特征在于,包括第一离轴反射镜和第二离轴反射镜,所述第一离轴反射镜为球面镜,所述第二离轴反射镜为偶次非球面镜,激光入射到所述第一离轴反射镜后发散并反射至所述第二离轴反射镜,并在所述第二离轴反射镜上发生反射后出射,形成扩束光斑;其中,所述第一离轴反射镜相对于入射激光的主光轴倾斜,所述第二离轴反射镜相对于入射激光的主光轴存在离轴偏心。
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