[发明专利]半导体装置结构在审
申请号: | 201810213097.2 | 申请日: | 2018-03-15 |
公开(公告)号: | CN109427782A | 公开(公告)日: | 2019-03-05 |
发明(设计)人: | 朱峯庆;李威养;杨丰诚;陈燕铭 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/092 | 分类号: | H01L27/092 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 冯志云;张福根 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 提供半导体装置结构。半导体装置结构包括基板,其具有基底与第一鳍状结构于基底上。半导体装置结构包括隔离层于基底上。第一鳍状结构部分地位于隔离层中。半导体装置结构包括第一栅极结构,其位于第一鳍状结构上并横越第一鳍状结构。半导体装置结构包括第一源极结构与第一漏极结构,其位于第一鳍状结构上与第一栅极结构的两侧上。第一源极结构与第一漏极结构的组成为n型导电材料。半导体装置结构包括盖层,其覆盖第一源极结构与第一漏极结构。盖层掺杂IIIA族元素。 | ||
搜索关键词: | 半导体装置结构 鳍状结构 漏极结构 源极结构 基底 栅极结构 隔离层 盖层 横越 基板 掺杂 覆盖 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置结构,包括:一基板,具有一基底与一第一鳍状结构于该基底上;一隔离层,位于该基底上,其中该第一鳍状结构部分地位于该隔离层中;一第一栅极结构,位于该第一鳍状结构上并横越该第一鳍状结构;一第一源极结构与一第一漏极结构,位于该第一鳍状结构上与该第一栅极结构的两侧上,其中该第一源极结构与该第一漏极结构的组成为n型导电材料;以及一盖层,覆盖该第一源极结构与该第一漏极结构,其中该盖层掺杂IIIA族元素。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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