[发明专利]一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置有效
| 申请号： | 201810214246.7 | 申请日： | 2018-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN108507679B | 公开（公告）日： | 2023-05-26 |
| 发明（设计）人： | 严强强;魏儒义;陈莎莎;于建东;王帅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 汪海艳 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于光学探测领域，特别涉及一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法及装置。首先将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上；然后将沿探测器行像元或列像元方向色散的光谱按照不同谱段反射至同一平面的不同位置；再将步骤二中反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹；再将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩；最后将压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散，获得高分辨光谱干涉条纹。解决了宽谱段高分辨率光谱干涉受到探测器行或者列像元数限制、交叉色散导致光谱谱线弯曲等的问题，实现一种宽谱段，高精度，高信噪比的视向速度探测方案。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 宽谱段高 分辨 光谱 干涉 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种宽谱段高分辨光谱干涉测量方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一：将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上；步骤二：将沿探测器行像元或列像元方向色散的光谱按照不同谱段反射至同一平面的不同位置；步骤三：将步骤二中反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹；步骤四：将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩；步骤五：将步骤四中压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散，获得高分辨光谱干涉条纹。
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