[发明专利]一种散射校正方法、装置及设备有效
| 申请号： | 201810215520.2 | 申请日： | 2018-03-15 |
| 公开（公告）号： | CN108606805B | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 楼珊珊;庄锦锋;逄岭 | 申请（专利权）人： | 东软医疗系统股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 刘晓菲;王宝筠 |
| 地址： | 110179 辽宁*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本申请实施例公开了一种散射校正方法、装置及设备，提高散射校正效率。所述方法包括：获取散射分布训练数据，所述散射分布训练数据根据第一训练扫描数据和第二训练扫描数据之差得到，所述第一训练扫描数据和所述第二训练扫描数据为分别对同一个训练扫描对象进行两次扫描得到的扫描数据，所述第一训练扫描数据对应的切片厚度大于所述第二训练扫描数据对应的切片厚度；根据所述散射分布训练数据拟合得到散射分布函数，所述散射分布函数体现光子的散射分布规律；获取实际扫描数据，并根据所述散射分布函数对所述实际扫描数据进行散射校正。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 散射 校正 方法 装置 设备 | ||
【主权项】：
1.一种散射校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取散射分布训练数据，所述散射分布训练数据根据第一训练扫描数据和第二训练扫描数据之差得到，所述第一训练扫描数据和所述第二训练扫描数据为分别对同一个训练扫描对象进行两次扫描得到的扫描数据，所述第一训练扫描数据对应的切片厚度大于所述第二训练扫描数据对应的切片厚度；根据所述散射分布训练数据拟合得到散射分布函数，所述散射分布函数体现光子的散射分布规律；获取实际扫描数据，并根据所述散射分布函数对所述实际扫描数据进行散射校正。
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