[发明专利]航天光学相机内参数星上监测仿真装置及模拟仿真方法在审

专利信息
申请号: 201810215799.4 申请日: 2018-03-15
公开(公告)号: CN108445779A 公开(公告)日: 2018-08-24
发明(设计)人: 刘薇;刘丹;于建冬;王慧;钱方明;王昱;王柯俨;缪毓喆 申请(专利权)人: 西安电子科技大学;中国人民解放军61540部队
主分类号: G05B17/02 分类号: G05B17/02;G01C25/00
代理公司: 北京天健君律专利代理事务所(普通合伙) 11461 代理人: 陈佳妹;刘冬亮
地址: 710071 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种航天光学相机内参数星上监测仿真装置及模拟仿真方法,其中装置包括第一光学自准直仪、第二光学自准直仪、第一平面镜、第二平面镜和三维转台;第一光学自准直仪的光轴与第一平面镜的法线相重合,第二光学自准直仪的光轴与第二平面镜的法线相重合;第一平面镜和第二平面镜呈预设夹角安装在三维转台上;第一平面镜和第二平面镜均能够随三维转台沿X轴、Y轴和Z轴转动;第一光学自准直仪的光轴与三维转台的转轴相平行;第一光学自准直仪中成像面阵的垂直方向为X轴,第一光学自准直仪中成像面阵的水平方向为Y轴,三维转台的转轴方向为Z轴。由此实现了模拟航天光学相机内参数星上监测过程。
搜索关键词: 平面镜 光学自准直仪 三维 转台 航天光学相机 内参数 自准直 光轴 法线 仿真装置 模拟仿真 成像面 重合 转轴 监测过程 预设夹角 监测 平行
【主权项】:
1.一种航天光学相机内参数星上监测仿真装置,其特征在于,包括第一光学自准直仪、第二光学自准直仪、第一平面镜、第二平面镜和三维转台;其中,所述第一光学自准直仪的光轴与所述第一平面镜的法线相重合,所述第二光学自准直仪的光轴与所述第二平面镜的法线相重合;所述第一平面镜和所述第二平面镜呈预设夹角安装在所述三维转台上;且所述第一平面镜和所述第二平面镜均能够随所述三维转台沿X轴、Y轴和Z轴转动;所述第一光学自准直仪的光轴与所述三维转台的转轴相平行;且所述第一光学自准直仪中成像面阵的垂直方向为X轴,所述第一光学自准直仪中成像面阵的水平方向为Y轴,所述三维转台的转轴方向为Z轴;所述第一光学自准直仪坐标系为O‑XYZ坐标系,所述第二光学自准直仪坐标系为O‑X’Y’Z’坐标系;其中,X’轴方向与X轴方向相同,Y’轴方向与Y轴方向之间的夹角与所述预设夹角相同,Z’轴方向与Z轴方向之间的夹角与所述预设夹角相同。
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