[发明专利]发光二极管芯片结构及其制作方法有效

专利信息
申请号: 201810216614.1 申请日: 2018-03-16
公开(公告)号: CN108447955B 公开(公告)日: 2019-07-23
发明(设计)人: 曾江斌;何安和;洪灵愿;彭康伟;林素慧;张家宏 申请(专利权)人: 厦门市三安光电科技有限公司
主分类号: H01L33/22 分类号: H01L33/22;H01L33/14;H01L33/46
代理公司: 北京汉之知识产权代理事务所(普通合伙) 11479 代理人: 冯华
地址: 361009 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种发光二极管芯片结构及其制作方法,结构包括衬底、外延结构、台面结构、第一电流阻挡层、电流扩展层、第二电流阻挡层、第一P电极、分布布拉格反射层、第二P电极以及N电极。第一电流阻挡层形成于外延结构的部分表面,电流扩展层包裹第一电流阻挡层,第二电流阻挡层形成于电流扩展层表面且具有图案化的粗糙表面,分布布拉格反射层包裹第一P电极、第二电流阻挡层表面及外延结构侧壁。本发明通过具有图案化的粗糙结构的电流阻挡层,能大大增加电流扩展层与分布布拉格反射层的界面表面积,使分布布拉格反射层入射光散射增强,从而提升芯片亮度。同时,可增强该电流阻挡层与分布布拉格反射层的黏附性,提高结构的可靠性。
搜索关键词: 电流阻挡层 分布布拉格反射层 电流扩展层 外延结构 发光二极管芯片结构 图案化 粗糙表面 粗糙结构 台面结构 入射光 黏附性 散射 侧壁 衬底 制作 芯片
【主权项】:
1.一种发光二极管芯片结构,其特征在于:包括:衬底;外延结构,位于所述衬底上,包括依次层叠的第一导电型半导体层、量子阱层以及第二导电型半导体层;局部凹陷区,位于部分所述第二导电型半导体层上,且向下延伸至所述第一导电型半导体层形成台面结构,所述台面结构露出有外延结构侧壁;第一电流阻挡层,形成于所述外延结构的部分表面;电流扩展层,包裹所述第一电流阻挡层,并与部分的所述外延结构表面接合;第二电流阻挡层,形成于所述电流扩展层表面,所述第二电流阻挡层具有图案化的粗糙表面,并具有显露所述电流扩展层的预留窗口;第一P电极,形成于所述预留窗口;分布布拉格反射层,包裹所述第一P电极表面、所述第二电流阻挡层表面及所述外延结构侧壁,且所述分布布拉格反射层中具有P电极通孔以及N电极通孔;第二P电极,形成于所述P电极通孔中,与所述第一P电极连接;以及N电极,形成于所述N电极通孔中,与所述第一导电型半导体层台面连接。
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