[发明专利]一种基于氧化铌选通管和氧化锆阻变层的1S1R器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 201810217430.7 申请日: 2018-03-16
公开(公告)号: CN108258115A 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 王浩;陈钦;陈傲;马国坤;何玉立 申请(专利权)人: 湖北大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 杨采良
地址: 430062 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及一种基于氧化铌选通管和氧化锆阻变层的1S1R器件及其制造方法。本发明的1S1R器件从下至上依次包括底电极层、氧化锆阻变层、氧化铌转换层和顶电极层;所述底电极层的厚度为100~300nm,所述阻变层的厚度为15~30nm,所述转换层的厚度为30~80nm,所述顶电极层的厚度为50~300nm,所述阻变层、转换层和顶电极层均是采用磁控溅射的方法形成。本发明采用氧化锆作为阻变层,氧化铌选通管作为转换层,制得的基于氧化铌选通管和氧化锆阻变层的1S1R器件具有较大的非线性值,能够有效减小漏电流、可实现十字交叉阵列的高密度集成,因此非常具有发展潜力和应用价值。
搜索关键词: 阻变层 氧化铌 氧化锆 选通管 转换层 顶电极层 底电极层 高密度集成 磁控溅射 十字交叉 漏电流 减小 制造 应用
【主权项】:
1.一种基于氧化铌选通管和氧化锆阻变层的1S1R器件,其特征在于:所述1S1R器件从下至上依次包括底电极层、阻变层、转换层和顶电极层,其中:所述底电极层为FTO、ITO、ZTO或TiN材料中的任一种,所述阻变层为氧化锆薄膜材料,所述转换层为氧化铌薄膜材料,所述顶电极层为Pt薄膜材料,所述的氧化铌为NbOx。
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