[发明专利]一种基于氧化锆隧穿层的氧化铌选通器件及其制造方法有效
申请号: | 201810217499.X | 申请日: | 2018-03-16 |
公开(公告)号: | CN108231823B | 公开(公告)日: | 2020-03-24 |
发明(设计)人: | 马国坤;陈傲;王浩;何玉立;陈钦 | 申请(专利权)人: | 湖北大学 |
主分类号: | H01L27/24 | 分类号: | H01L27/24;H01L45/00 |
代理公司: | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 | 代理人: | 杨采良 |
地址: | 430062 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种基于氧化锆隧穿层的氧化铌选通器件及其制造方法。本发明的选通器件从下至上依次包括底电极层、氧化锆隧穿层、氧化铌转换层和顶电极层;所述底电极层的厚度为50~300nm,所述隧穿层的厚度为1~5nm,所述转换层的厚度为30~100nm,所述顶电极层的厚度为50~300nm,所述隧穿层、转换层和顶电极层均是采用磁控溅射的方法形成。本发明在氧化铌转换层和底电极层之间增加了一层超薄的氧化锆隧穿层,氧化锆隧穿层有效减小了器件的操作电流和操作电压,可显著降低器件的使用功耗,增加高阻态电阻值,提升非线性度,因此,本发明制得的选通器件非线性值高,非常具有发展潜力和应用价值。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 氧化锆 隧穿层 氧化 铌选通 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于氧化锆隧穿层的氧化铌选通器件,其特征在于:所述选通器件从下至上依次包括底电极层、隧穿层、转换层和顶电极层,其中:所述底电极层为FTO、ITO、ZTO或TiN材料中的任一种,所述隧穿层为氧化锆薄膜材料,所述转换层为氧化铌薄膜材料,所述顶电极层为Pt薄膜材料,所述的氧化铌为NbOx。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的