[发明专利]基于单线激光扫描装置的激光测距方法和系统有效
| 申请号： | 201810220139.5 | 申请日： | 2018-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN108469617B | 公开（公告）日： | 2020-04-03 |
| 发明（设计）人： | 钟庆;邓狄狄;张铖伟 | 申请（专利权）人： | 浙江华领科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S17/10 | 分类号： | G01S17/10 |
| 代理公司： | 杭州裕阳联合专利代理有限公司 33289 | 代理人： | 姚宇吉 |
| 地址： | 313100 浙江省湖州市长兴县*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于单线激光扫描装置的激光测距方法和系统，其中，方法包括：获取单线激光扫描装置的内部设定参数，内部设定参数包括测距基准参数和校验参数；在出厂后扫描测距时，对实时获取各扫描位置的回复路径的时间信息进行均值处理，并根据处理结果更新测距基准参数，得到测距基准均值；利用校准公式根据测距基准均值和校验参数对扫描目标的原始时间数据进行校准处理，得到测距的实际距离数据。本发明在出厂后扫描测距时先重新测量测距基准参数，并以测量结果为标准更新内部设定参数，不仅避免涉及复杂算法，并且避免由于环境因素或者长时间运行导致装置自身性能等原因引起的对测距数据精度产生的漂移现象，提高最终测距的精确度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 单线 激光 扫描 装置 测距 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于单线激光扫描装置的激光测距方法，其特征在于，包括以下步骤；获取单线激光扫描装置的内部设定参数，所述内部设定参数包括测距基准参数和校验参数；在出厂后扫描测距时，实时获取各扫描位置的回复路径的时间信息，对所述时间信息进行均值处理，并根据处理结果更新所述测距基准参数，得到测距基准均值；利用校准公式根据所述测距基准均值和校验参数对扫描目标的原始时间数据进行校准处理，得到单线激光扫描装置测距的实际距离数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江华领科技有限公司，未经浙江华领科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810220139.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
