[发明专利]解决常压敞开式激光质谱仪中待测等离子体寿命短的方法及质谱仪在审
| 申请号： | 201810220514.6 | 申请日： | 2018-03-16 |
| 公开（公告）号： | CN108445073A | 公开（公告）日： | 2018-08-24 |
| 发明（设计）人： | 周云申;秦国双 | 申请（专利权）人： | 常州英诺激光科技有限公司;江苏微纳激光应用技术研究院有限公司;英诺激光科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 深圳市精英专利事务所 44242 | 代理人： | 任哲夫 |
| 地址： | 213000 江苏省常州市武进区常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种解决常压敞开式激光质谱仪中待测等离子体寿命短的方法及质谱仪，属于分析仪器技术领域，该方案针对常压敞开式激光质谱仪待测样品于非真空环境离子化所形成的等离子体稳定性低、寿命短的缺点，利用激光对等离子体进行二次或多次辐照，进一步提高等离子体的电离度，提升等离子体中离子浓度，并延长等离子体寿命。从而有效提高检测精度，准确度和信号的信噪比。 | ||
| 搜索关键词： | 等离子体 质谱仪 敞开式 激光 常压 等离子体稳定性 非真空环境 待测样品 分析仪器 准确度 辐照 电离度 离子化 信噪比 离子 检测 | ||
【主权项】：
1.解决常压敞开式激光质谱仪中待测等离子体寿命短的方法，其特征在于：在一次激光辐照待测样品形成待测等离子体后，再对待测等离子体进行二次或二次以上激光辐照，进一步提高待测等离子体的电离度，提升待测等离子体中离子浓度，延长待测等离子体的寿命。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于常州英诺激光科技有限公司;江苏微纳激光应用技术研究院有限公司;英诺激光科技股份有限公司，未经常州英诺激光科技有限公司;江苏微纳激光应用技术研究院有限公司;英诺激光科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810220514.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
