[发明专利]一种球体颗粒体系法向接触力和法向位移的测量装置有效
| 申请号： | 201810224974.6 | 申请日： | 2018-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN108535147B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 单鹏;刘军;赵伏田;程毅;刘明清;刘光昆;肖治民;蓝鹏;张超;金胜兵 | 申请（专利权）人： | 河海大学 |
| 主分类号： | G01N15/00 | 分类号： | G01N15/00;G01D21/02 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 韩莲 |
| 地址： | 211100 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明专利涉及一种球体颗粒体系法向接触力和法向位移的测量装置，包括测量法向接触力机构、以及测量法向位移机构；测量法向接力触机构包括固定套筒、有机玻璃圆管、若干个薄膜压力传感器以及若干个实验颗粒球；固定套筒安装于支撑板上；有机玻璃圆管安装于固定套筒上，实验颗粒球竖向叠加式放置于有机玻璃圆管中；薄膜压力传感器设于实验颗粒球与实验颗粒球的接触面上；加压机构设于支撑板上，用于向实验颗粒球加压；测量法向位移机构设于支撑板上，用于测量实验颗粒球在法向方向的位移。其能解决解决球体颗粒在冲击作用下，法向力与法向位移难以测量的问题，提高了实验的精确性，并极大地简化了实验操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 球体 颗粒 体系 接触 位移 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种球体颗粒体系法向接触力和法向位移的测量装置，其特征在于，包括支撑板、加压机构、测量法向接触力机构、测量法向位移机构、以及电脑；测量法向接力触机构包括固定套筒、有机玻璃圆管、若干个薄膜压力传感器以及若干个实验颗粒球；有机玻璃圆管安装于固定套筒上，固定套筒安装于支撑板上，若干个实验颗粒球竖向叠加式放置于有机玻璃圆管中；薄膜压力传感器设于有机玻璃圆管中，并位于实验颗粒球与实验颗粒球的接触面上；薄膜压力传感器连接于电脑；加压机构设于支撑板上，并连接于有机玻璃圆管上，用于向有机玻璃圆管中的实验颗粒球加压；测量法向位移机构设于支撑板上，用于测量实验颗粒球在法向方向的位移。
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