[发明专利]一种存储器测试方法和装置在审
| 申请号： | 201810226288.2 | 申请日： | 2018-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN110287076A | 公开（公告）日： | 2019-09-27 |
| 发明（设计）人： | 王玺 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储器测试方法和装置。应用于终端，所述方法包括：模拟虚拟存储器；其中，所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存；通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器；所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。通过本发明实施例，可以使存储器的测试不依赖于存储器的硬件，节省了存储器的硬件制作时间，进而缩短了存储器的开发时间，提高了存储器的开发效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 虚拟存储器 存储器测试 方法和装置 测试指令发送 块设备驱动 测试指令 开发效率 前端接口 虚拟闪存 算法 预设 虚拟 终端 测试 响应 制作 应用 开发 | ||
【主权项】：
1.一种存储器测试方法，其特征在于，应用于终端，所述方法包括：模拟虚拟存储器；其中，所述虚拟存储器包括虚拟前端接口、FTL算法和虚拟闪存；通过预设块设备驱动将第一测试指令发送至所述虚拟存储器；所述虚拟存储器响应所述第一测试指令。
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