[发明专利]一种双发射二氧化硅荧光探针在检测Cu2+ 有效
| 申请号： | 201810226356.5 | 申请日： | 2018-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN108414489B | 公开（公告）日： | 2021-02-05 |
| 发明（设计）人： | 卢小泉;张彩中;牛琦霞;李学梅;张雪红;武亚丽;陕多亮 | 申请（专利权）人： | 西北师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人： | 钟国 |
| 地址： | 730070 甘肃*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种双发射二氧化硅荧光探针在检测Cu |
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| 搜索关键词： | 一种 发射 二氧化硅 荧光 探针 检测 cu base sup | ||
【主权项】：
1.一种双发射二氧化硅荧光探针在检测Cu2+中的应用，所述双发射二氧化硅荧光探针包括二氧化硅包裹的卟啉，以及附在二氧化硅外表面的碳量子点。
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