[发明专利]金属卟啉框架封装碳量子点在检测铜离子中的应用在审
| 申请号： | 201810226358.4 | 申请日： | 2018-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN108548801A | 公开（公告）日： | 2018-09-18 |
| 发明（设计）人： | 卢小泉;牛琦霞;张彩中;李学梅;张雪红;武亚丽;陕多亮 | 申请（专利权）人： | 西北师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;C09K11/02;C09K11/06;C09K11/65 |
| 代理公司： | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人： | 钟国 |
| 地址： | 730070 甘肃*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种金属卟啉框架封装碳量子点在检测铜离子中的应用，采用荧光分析法检测铜离子，所述金属卟啉框架封装碳量子点作为铜离子的比率型荧光探针使用。Cu2+的加入会引起金属卟啉框架的荧光强度减弱，而碳量子点的荧光强度不变，其它金属离子的加入不能引起与Cu2+类似的荧光变化，可实现对铜离子的高选择性荧光定量检测，克服现有荧光探针浓度及环境的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 铜离子 金属卟啉 量子点 框架封装 荧光探针 荧光 检测 荧光定量检测 荧光分析法 高选择性 金属离子 强度减弱 荧光变化 应用 | ||
【主权项】：
1.金属卟啉框架封装碳量子点在检测铜离子中的应用，采用荧光分析法检测铜离子，其特征在于，所述金属卟啉框架封装碳量子点作为铜离子的比率型荧光探针使用。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北师范大学，未经西北师范大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810226358.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
