[发明专利]测试系统、测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 201810226547.1 申请日: 2018-03-19
公开(公告)号: CN108897647B 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 文其林 申请(专利权)人: 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 赵囡囡;董文倩
地址: 100086 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测试系统、测试方法及装置。其中,测试系统包括显示接口DisplayPort接收端待测设备、多个DisplayPort发送端主芯片和微控制器,包括:检测是否接收到测试操作触发的测试指令;在接收到测试指令后,从多个DisplayPort发送端主芯片中选择目标DisplayPort发送端主芯片,其中,目标DisplayPort发送端主芯片用于发送测试信号至DisplayPort接收端待测设备;DisplayPort接收端待测设备在接收到测试信号后,比较测试信号与目标测试信号是否一致,得到比较结果;微控制器根据比较结果确定测试操作是否成功。本发明解决了相关技术中由于测试系统复杂,校准时间长,导致测试效率较低的技术问题。
搜索关键词: 测试 系统 方法 装置
【主权项】:
1.一种测试系统,其特征在于,测试系统包括显示接口DisplayPort接收端待测设备、多个DisplayPort发送端主芯片和微控制器,包括:检测是否接收到测试操作触发的测试指令;在接收到所述测试指令后,从所述多个DisplayPort发送端主芯片中选择目标DisplayPort发送端主芯片,其中,所述目标DisplayPort发送端主芯片用于发送测试信号至所述DisplayPort接收端待测设备;所述DisplayPort接收端待测设备在接收到所述测试信号后,比较所述测试信号与目标测试信号是否一致,得到比较结果;所述微控制器根据所述比较结果确定所述测试操作是否成功。
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