[发明专利]用于测量机械构件位置的系统及用于测量机械构件位置的方法

摘要

用于测量机械构件位置的系统，包括用于设置在一个第一机械构件(101)上的光学检测工具(2)和一个用于设置在一个第二机械构件(102)上的定位轨道(3)，与第一机械构件(101)相比，第二机械构件更易受到相对运动的影响。定位轨道(3)设有至少一个多个区段(5)的连续段(4)，每个系列包括彼此隔开的第一界定部分(11)和第二界定部分(12)，以及第一标识部分(13)和第二标识部分(14)，它们相对于第一界定部分(11)和第二界定部分(12)具有不同的光学对比度。在每个所述区段(5)中，第一标识部分(13)被界定在第一界定部分(11)和第二界定部分(12)之间。此外，每个所述区段(5)的标识部分(13、14)的长度不同于连续段(4)的每个其他区段(5)的标识部分(13、14)的长度，从而便于专门识别对应的区段(5)。

主权项

1.用于测量机械构件位置的系统(1)，该系统(1)包括：光学检测工具(2)，其被设计为设置在机械装置(100)的一个第一机械构件(101)上；一个定位轨道(3)，其被设计为设置在所述机械装置(100)的一个第二机械构件(102)上，该第二机械构件能够相对于所述第一机械构件(101)运动；所述定位轨道(3)设有至少一个沿测量方向(W)一个接一个放置多个区段(5)的连续段(4)，每个区段(5)沿着所述测量方向(W)延伸一个给定的区段长度(LS)；所述光学检测工具(2)被设计为用于在所述定位轨道(3)上界定一个测量窗口(6)，该测量窗口旨在被所述区段(5)穿过，并且沿着所述测量方向(W)延伸一个大于或等于每个所述区段(5)的区段长度(LS)的检测长度(LR)。所述系统(1)的特征在于每个所述的区段(5)包括：沿着所述测量方向(W)彼此隔开的第一界定部分(11)和第二界定部分(12)；一个第一标识部分(13)和一个第二标识部分(14)，它们相对于所述第一界定部分(11)和所述第二界定部分(12)具有不同的光学对比度，并且沿着所述测量方向(W)分别延伸一个第一标识长度(LI1)和一个第二标识长度(LI2)；其中，在每个区段(5)中，所述第一标识部分(13)被根据所述第一标识长度(LI1)限定在所述第一限定部分(11)和所述第二限定部分(12)之间，并且所述第二标识部分(14)通过所述第二界定部分(12)与所述第一标识部分(13)分开；其中，每个所述区段(5)的第一标识部分(13)的第一标识长度(LI1)不同于所述连续段(4)中每个其他区段(5)的第一标识部分(13)的第一标识长度(LI1)。其中，每个区段(5)的第二标识部分(14)的第二标识长度(LI2)不同于所述连续段4的每个其他区段(5)的第二标识部分(14)的第二标识长度(LI2)。