[发明专利]一种荧光寿命的测量方法及装置

摘要

本发明适用于光电检测技术领域，提供了一种荧光寿命的测量方法及装置，包括：首先，以预置的测量矩阵的每一行作为一个采样模式，每一个所述采样模式下的非零值位置作为一个时间门控延迟采样的稀疏信号通道，在每个采样模式下对样品进行延迟采样，将当前采样模式下的稀疏信号通道的光子数累加在一起获得一个压缩感知测量值，重复各采样模式获取系列压缩感知测量值；然后，利用所述压缩感知测量值并结合测量矩阵在l1范数最优化算法下求解方程得到稀疏系数；最后，通过已知的稀疏矩阵逆变换作用于所述稀疏系数，进行信号重构，得到荧光寿命衰减曲线，以实现荧光寿命的测量；本发明提供的方法提高了荧光寿命的测量速度。

主权项

1.一种荧光寿命的测量方法，其特征在于，所述方法包括：以预置的测量矩阵的每一行作为一个采样模式，每一个所述采样模式下的非零值位置作为一个时间门控延迟采样的稀疏信号通道，通过时间门控硬件在每个采样模式下对样品进行延迟采样，将当前采样模式下的稀疏信号通道的光子数累加在一起获得一个压缩感知测量值yi，重复各采样模式获取系列压缩感知测量值y＝{yi},i＝1,2,...,M；利用所述压缩感知测量值并结合由所述测量矩阵Φ_M×N与稀疏变换矩阵的逆变换构成的传感矩阵A在l₁范数最优化算法下求解压缩采样模型，得到稀疏系数s＝{a_k},k＝1,2,...,N；通过已知的稀疏变换矩阵的逆变换作用于所述稀疏系数，进行信号重构得到荧光寿命衰减曲线I(t)＝{x_j},j＝1,2,...,N，以实现荧光寿命的测量。