[发明专利]基于磁总场梯度和磁张量模量梯度的磁目标单点定位方法有效
申请号: | 201810238404.2 | 申请日: | 2018-03-22 |
公开(公告)号: | CN108931241B | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 庄志洪;金煌煌;王宏波;王容川;付梦印 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01C21/00 | 分类号: | G01C21/00 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于磁总场梯度和磁张量模量梯度的磁目标单点定位方法,该方法通过立方体磁探仪求取磁总场梯度的模量以及磁张量模量梯度的模量,进一步联立求取磁目标的方位和磁矩大小的解析解。本发明提出的磁目标单点定位方法,基于磁总场梯度和磁张量模量梯度的旋转不变性,能够有效规避磁目标和磁探仪相对旋转和相对运动带来的定位不准确问题,对特定场景下的磁异常目标定位应用具有重要的实际意义。 | ||
搜索关键词: | 基于 磁总场 梯度 张量 目标 单点 定位 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于磁总场梯度和磁张量模量梯度的磁目标单点定位方法,运用三轴向量磁强计为传感器,其特征在于,具体步骤如下:步骤1,选取磁探仪正立方体构型,获取各磁强计三轴磁分量;步骤2,利用磁强计三轴磁分量求取各磁强计测量磁场的模量;步骤3,针对磁探仪正立方体构型,求取磁探仪中心处磁场模量的梯度;步骤4,针对磁探仪正立方体构型,求取磁探仪各面中心处及磁探仪中心处磁场的梯度张量;步骤5,利用步骤4求得的磁探仪各面中心处磁场的梯度张量,求取梯度张量的模量;步骤6,利用步骤5求得的张量模量,对磁探仪中心处张量模量的梯度进行工程化近似获取;步骤7,对步骤3和步骤6求取的磁探仪中心处梯度和张量模量梯度分别进行归一化处理;步骤8,求取磁目标位置以及磁目标磁矩大小,完成磁目标定位。
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