[发明专利]一种解决双面电路晶元焊料短路的载板制作及封装方法有效
申请号: | 201810241152.9 | 申请日: | 2018-03-22 |
公开(公告)号: | CN108493121B | 公开(公告)日: | 2019-09-20 |
发明(设计)人: | 吴现伟;龙华;郭嘉帅;郑瑞 | 申请(专利权)人: | 上海飞骧电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 北京律和信知识产权代理事务所(普通合伙) 11446 | 代理人: | 武玉琴;刘国伟 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种解决双面电路晶元焊料短路的载板制作及封装方法。该方法包括以下步骤:设计双面电路晶元;根据双面电路晶元的厚度、焊盘分布及封装单元空间排布,设计并制作载板;在侧装晶元对应的载板绿油表面位置涂覆非导电胶;在与晶元焊盘对应的载板焊盘涂覆导电胶;侧装粘贴双面电路晶元;载板退出工作台搁置一段时间;烤箱烘烤固化胶体,使非导电胶固化增强晶元与载板结合,使导电胶与载板焊盘及晶元焊盘固化;外观检验确认结合性。本发明所述的方法可以解决双面电路晶元侧装时双侧导电胶因毛细管效应通过接触位置相互爬胶导致的短路问题,提高封装良率;使晶元与载板结合更加稳固。 | ||
搜索关键词: | 晶元 载板 双面电路 焊盘 导电胶 侧装 封装 固化 焊料 非导电胶 短路 涂覆 制作 毛细管效应 表面位置 短路问题 封装单元 接触位置 烤箱烘烤 空间排布 外观检验 结合性 工作台 良率 绿油 粘贴 搁置 稳固 退出 | ||
【主权项】:
1.一种解决双面电路晶元焊料短路的载板制作及封装方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤S1,设计双面电路晶元;步骤S2,根据双面电路晶元的厚度、焊盘分布及封装单元空间排布,设计并制作载板;步骤S3,在晶元对应的载板绿油表面位置涂覆非导电胶;步骤S4,在与晶元焊盘对应的载板焊盘涂覆导电胶;步骤S5,侧装粘贴双面电路晶元,晶元自上向下贴装过程中,晶元底部先与非导电胶接触并向下挤压,使非导电胶充满晶元底部对应的载板绿油区域;晶元继续向下贴装,晶元侧面及侧面焊盘与导电胶接触,使导电胶快速与晶元焊盘结合;步骤S6,载板退出工作台搁置一段时间;步骤S7,烤箱烘烤固化胶体,使非导电胶固化增强晶元与载板结合,使导电胶与载板焊盘及晶元焊盘固化。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造