[发明专利]触控屏测试装置及方法在审
| 申请号： | 201810249222.5 | 申请日： | 2018-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN108459232A | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 邓元敏;刘双喜 | 申请（专利权）人： | 武汉华显光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/00 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 张志江 |
| 地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开一种触控屏测试装置及测试方法，其中触控屏测试装置，用于对触控屏进行测试，触控屏设置有第一测试端子，触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，上位机与测试治具连接，测试治具设置有第二测试端子，第一测试端子与第二测试端子配合连接；测试治具控制第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至驱动芯片，代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。本发明技术方案能够实现代码的自动烧录和测试，避免人工手动操作造成的漏烧录等问题，提高了触控屏的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 触控屏 测试端子 测试治具 测试装置 上位机 烧录 测试 驱动芯片 上位机控制 测试效率 建立通信 配合连接 匹配连接 人工手动 移动 | ||
【主权项】：
1.一种触控屏测试装置，所述触控屏设置有第一测试端子，其特征在于，所述触控屏测试装置包括：上位机及测试治具，所述上位机与所述测试治具连接，所述测试治具设置有第二测试端子；所述测试治具控制所述第二测试端子移动，以与待测试的触控屏的第一测试端子匹配连接；上位机与所述触控屏的驱动芯片建立通信，上位机将代码烧录至所述驱动芯片；代码烧录完成后，驱动芯片进入BIST模式，上位机控制测试治具对触控屏进行TP测试。
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