[发明专利]一种用于无掩模光刻扫描的分布式曝光方法有效

专利信息
申请号: 201810253685.9 申请日: 2018-03-26
公开(公告)号: CN108303860B 公开(公告)日: 2019-11-08
发明(设计)人: 杨刚;吴晨枫;郑春红;李威威;石峰 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 西安西达专利代理有限责任公司 61202 代理人: 刘华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 一种用于无掩模光刻扫描的分布式曝光方法,用于有效的提高线路板光刻中基板的曝光处理速度。具体包括以下步骤:1、PC端读取BMP位图,并将读取到的图片发至数字微镜DMD控制设备;2、根据数字微镜DMD个数和分布情况,对BMP位图进行填补处理;3、计算每个DMD曝光停顿的关键点图片坐标信息,并存储至容器;4、将计算后的数据信息发送至DMD控制端;5、根据曝光停顿点位置控制数字微镜DMD移动并实现大面积曝光。本发明采用"盖章式"分布曝光,可以大幅度提高大面积图形曝光的曝光速率,采用HDMI进行图片传输,降低对投影设备内存的要求,节省成本,同时使得曝光时长更容易控制。
搜索关键词: 曝光 读取 无掩模光刻 数字微镜 停顿 扫描 数据信息发送 大面积图形 线路板 控制设备 曝光处理 曝光时长 投影设备 图片传输 图片坐标 点位置 关键点 控制端 光刻 基板 微镜 盖章 内存 存储 填补 移动 图片
【主权项】:
1.一种用于无掩模光刻扫描的分布式曝光方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、读取BMP位图,并将读取到待曝光的图片发至DMD控制设备;所述的BMP位图是指由PCB制版中的描述电路信息的Gerber文件转换成的BMP格式的位图;步骤2、根据DMD分组个数和分布情况,对BMP位图进行填补预处理,图片预处理是指根据曝光特征,利用图像处理技术将待曝光图片预处理为投影图像的整数倍,填补区域采用不影响曝光效果的黑色进行填充,处理方式如下:1)确定DMD分布为m*n组,然后对BMP位图进行填补预处理,假设投影图片尺寸宽为w、高h,BMP位图尺寸宽W、高H,则需保证处理后的W/w、H/h分别为m、n的整数倍;2)图片填补处理需采用黑色进行填补,黑色区域不进行曝光,以保证不影响整体曝光效果;步骤3、根据步骤2中处理后的图片尺寸,计算每个DMD曝光停顿的关键点图片坐标信息,并存储至m×n个容器中作为待发送数据信息,用于后面控制每个DMD的运动轨迹;步骤4、将步骤3中计算后的数据信息,通过485总线发送至每个DMD控制设备,方便后面对曝光图片特定区域的读取和DMD轨迹的控制;步骤5、解析步骤4中DMD控制设备接收到数据信息与控制指令,根据曝光停顿关键点位置信息,以及DMD投影面积尺寸,来确定当前需要读取BMP位图的区域,并通过HDMI接口将该图片发送给DMD,从而实现大面积曝光。
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