[发明专利]包括可变电阻材料层的存储器件有效

专利信息
申请号: 201810257802.9 申请日: 2018-03-27
公开(公告)号: CN108666417B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: 安东浩;吴哲;朴淳五;堀井秀树 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00;H01L27/24;G11C13/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 屈玉华
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种存储器件。该存储器件包括可变电阻层。选择器件层电连接到可变电阻层。选择器件层包括具有根据下面的化学式1的组成的硫族化合物开关材料,[GeASeBTeC](1‑U)[X]U···(1)其中,0.20≤A≤0.40,0.40≤B≤0.70,0.05≤C≤0.25,A+B+C=1,0.0≤U≤0.20,并且X是从硼(B)、碳(C)、氮(N)、氧(O)、磷(P)或硫(S)中选择的至少一种。
搜索关键词: 包括 可变 电阻 材料 存储 器件
【主权项】:
1.一种存储器件,包括:可变电阻层;以及电连接到所述可变电阻层的选择器件层,其中所述选择器件层包括具有根据下面的化学式1的组成的硫族化合物开关材料,[GeASeBTeC](1‑U)[X]U··················(1)其中,0.20≤A≤0.40,0.40≤B≤0.70,0.05≤C≤0.25,A+B+C=1,0.0≤U≤0.20,并且其中X是从硼(B)、碳(C)、氮(N)、氧(O)、磷(P)或硫(S)中选择的至少一种。
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