[发明专利]一种双材料氧化层结构的黑磷场效应管在审

专利信息
申请号: 201810258143.0 申请日: 2018-03-27
公开(公告)号: CN108428735A 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 沈志豪;赵剑飞;江斌;王伟 申请(专利权)人: 南京邮电大学
主分类号: H01L29/12 分类号: H01L29/12;H01L29/49;H01L29/78
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 吕朦
地址: 210003 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种双材料氧化层结构的黑磷场效应管,包括导电沟道、源区、漏区、栅极氧化层、源极、漏极、栅极;栅极氧化层位于导电沟道、源区、漏区外,栅极氧化层包括高介电常数栅极氧化层和低介电常数栅极氧化层;高介电常数栅极氧化层位于源区及导电沟道靠近源区的部分外;低介电常数栅极氧化层位于漏区及导电沟道靠近漏区的部分外。本发明与具有低介电常数的传统黑磷场效应管相比,具有更高的I on/I off比、跨导、移动电荷和平均速度;与具有高介电常数的传统黑磷场效应管相比,具有更低的量子电容,更小的固有延迟时间和更短的功率延迟。
搜索关键词: 栅极氧化层 场效应管 导电沟道 黑磷 漏区 低介电常数 源区 高介电常数栅极 氧化层结构 双材料 氧化层 高介电常数 功率延迟 固有延迟 移动电荷 靠近源 电容 漏极 源极 量子
【主权项】:
1.一种双材料氧化层结构的黑磷场效应管,其特征在于,包括导电沟道(1)、源区(2)、漏区(3)、栅极氧化层(4)、源极(5)、漏极(6)、栅极(7);所述导电沟道(1)、源区(2)、漏区(3)均采用本征半导体黑磷;源区(2)和漏区(3)分别位于导电沟道(1)两端,且源区(2)和漏区(3)为重掺杂区域,导电沟道(1)不掺杂;栅极氧化层(4)位于导电沟道(1)、源区(2)、漏区(3)外,栅极氧化层(4)包括高介电常数栅极氧化层(41)和低介电常数栅极氧化层(42);高介电常数栅极氧化层(41)位于源区(2)及导电沟道(1)靠近源区(2)的部分外;低介电常数栅极氧化层(42)位于漏区(3)及导电沟道(1)靠近漏区(3)的部分外;栅极(7)为位于栅极氧化层外(4)的金属电极;位于源区(2)和漏区(3)外的栅极氧化层(4)上分别刻蚀有源极引线孔和漏极引线孔,源极(5)为位于源极引线孔处的金属电极,漏极(6)为位于漏极引线孔处的金属电极。
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