[发明专利]一种低误差准确测量单个纳米材料杨氏模量的方法有效
| 申请号： | 201810258770.4 | 申请日： | 2018-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN108535106B | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 许智;张小龙;白雪冬 | 申请（专利权）人： | 安徽泽攸科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 胡剑辉 |
| 地址： | 244000 安徽省铜陵市经济*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低误差准确测量单个纳米材料杨氏模量的方法，通过透射电子显微镜测量待测单个线形纳米材料样品的特征尺寸；将待测单个线形纳米材料样品固定在样品夹持装置中两个相对设置的放电电极中的一个电极上；对样品夹持装置上的两个放电电极施加交变电信号使样品产生振动，改变交变电信号的频率，同时利用透射电子显微镜对待测单个线形纳米材料样品的振动状态进行监测，通过寻找其出现最大振幅时所作用交变电信号的频率，即共振频率，以确定该样品的本征固有频率；最后利用已知函数计算获得杨氏模量Y；尽可能的消毒测量过程中的系统误差和人为误差，提高实际测量的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 误差 准确 测量 单个 纳米 材料 杨氏模量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种低误差准确测量单个纳米材料杨氏模量的方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤100、利用透射电子显微镜测量待测单个线形纳米材料样品的特征尺寸S；步骤200、将待测单个线形纳米材料样品固定在样品夹持装置上，该样品夹持装置具有两个相对设置的放电电极，待测单个线形纳米材料样品活动设在两个放电电极之间；步骤300、对样品夹持装置上的两个放电电极施加不同电压的交变电信号，并且由小至大改变交变电信号的频率，同时通过透射电子显微镜对待测单个线形纳米材料样品在交变电信号作用下的振动状态进行检测，逐次获得共振频率f，并换算出固有频率f0；步骤400、将测取的待测单个线形纳米材料样品的特征尺寸及其对应的固有频率f0代入已知函数f0＝F(Y，S，ρ)中，其中f0为材料的固有频率，S代表材料的特征尺寸，ρ为材料的密度，以获得待测单个线形纳米材料样品杨氏模量Y。
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